書名 : 發明專利實體審查基準.Substantive examination guidelines for invention patent.(二) =2 /
紀錄類型 : 書目-語言資料,印刷品: 單行本
正題名[資料類型標示]/作者 : 發明專利實體審查基準.張仁平編著
其他題名 : Substantive examination guidelines for invention patent.
其他題名 : Substantive examination guidelines for invention patent.
作者 : 張仁平
出版者 : 臺北市 :經濟部智慧財產局,2006-
面頁冊數 : 冊 :圖 ;21公分
附註 : 2014年版權頁為初版,據歷年出版資料推測此書版本應為三版
標題 : 著作權法
ISBN : 9860051623 (初版 : 平裝)
集叢項 : 智慧財產培訓學院教材 ;8
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